季忱經理主要負責梅特勒-托利多天平產品市場工作，他著重介紹了公司全新研發，面向高端稱量解決方案的產品——XPE新超越分析天平。XPE/XSE分析天平將獲得科技智慧的梅特勒-托利多稱量技術與數十年的稱量專業知識相結合，確保用戶快速、可靠地獲得理想中的稱量結果。如XPE205 天平，就具有200g的量程，0.01mg可讀性的特質。季經理還進一步指出，相較于以前超越系列天平，XPE205 電子天平不光在稱量性能上有了進一步的提升，更為重要的是引入了無憂稱量的理念，可以幫助我們用戶輕松實現“儀器無憂”，“樣品無憂”，以及“過程無憂”。
 

由于用戶們對實驗天平的使用習慣和要求越來越高，梅特勒-托利多在實驗天平的研發制造上，也更加注重這方面的細節處理。季經理介紹說，這次全新研發的天平，前面防風罩部分屬于樣品加樣區域，后面部分是傳感器稱量區域。其設計沿用了懸掛式的稱量方式，這使得XPE天平的ITC（集成的溫度控制單元）能非常高效地避免熱量積聚對傳感器正確稱量的影響，保證了天平卓越的稱量性能； 其次，懸掛式smart gride網格秤盤的運用，也使得我們無需擔心加樣時樣品灑落到皮重容器外，會對稱量結果有影響，并且，鏤空的網格秤盤，可進一步抵消空氣浮力對去皮容器的影響，這在使用稱樣紙進行樣品稱量時效果特別明顯